Qfn52-0.4 старение блок чип тест Блок Программирование Блок Ic549-0524-015-g

QFN52-0.4Aging откидной пружины

Краткое описание продукта

A. Использование продукта:Программируемый Блок, тестовый стенд, YesQFN52OfICChip aging, тест

B. Применимая Инкапсуляция:QFN52Pin spacing0.4mm

C. Испытательный стенд:QFN52-0.4

D, характеристика:UseUType наперсток, более стабильный контакт

E. Мы можем предоставить спецификации (макет), PDFfiles \ CAD

Параметры Размер

、 Модель:QFN-52-0.4

B. Расстояние между штырьками (мм):0,4

C. Положение стопы: 52

D. Размер чипа: 7*7 мм

Информация об изделии