SEM кремнезема полировки Тип экспериментальные исследования высокой чистоты одной пластины кремния 4 дюйма P100

Описание

Один с украшением в виде кристаллов,Двусторонняя полировка 2,3, 4 дюйма

Материал:

Высокая чистота кремния Si один кристалл подложки. П/п опционально.

Область применения:

1. PVD/CVD покрытие подложка

2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), AFM (атомный силовой микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентная спектроскопия и другие аналитические тестовые подложки

3. Синхротронное излучение экспериментальный носитель образцов

4. Подложка для молекулярного пучка эпитаксиального выращивания

5. Полупроводниковый процесс литографии и так далее