SEM кремнезема Тип полировки экспериментальных исследований высокой чистоты одной пластины кремния 1,2 дюйма P100, 110111

Один кристалл,Двухсторонняя полировка, 2,3, 4 дюйма

Материал:

Кремний высокой чистоты Si один кристаллическая подложка. Н/п опционально.

Использует:

1. PVD/CVD покрытие подложка

2. Используется в качестве XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), AFM (атомный силовой микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентная спектроскопия и другие аналитические тестовые подложки

3. экспериментальный носитель образцов синхротронного излучения

4. Подложка для молекулярного пучка эпитаксиального выращивания

5. Процесс литографии полупроводников и т. д.