SEM кремнезема Тип полировки экспериментальных исследований высокой чистоты одной пластины silicon2, 4 дюйма P100, 110111 и могут быть выполнены по индивидуальному заказу

Часто задаваемые вопросы

История бренда

Технические характеристики:Один кристалл, двухсторонняя полировка, 2,4 дюймовМатериал:Кремний высокой чистоты Si один кристаллическая подложка. Н/п опционально.Использует:1. PVD/CVD покрытие подложка2. Используется в качестве XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), AFM (атомный силовой микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентная спектроскопия и другие аналитические тестовые подложки3. экспериментальный носитель образцов синхротронного излучения4. Подложка для молекулярного пучка эпитаксиального выращивания5. Процесс литографии полупроводников и т. д.