Описание
Базовый материал серии используется forSEM, AFM, XX-ray анализ, образцы, используемые для характеристики электронным зондом микроскопии и других устройств обеспечивают различные типы материалов подложки. с улучшением различных методов подготовки, характеристики материала подложки будут значительно повлиять Процесс роста материала. специфические свойства основного материала (например, свет, электрический, магнетизм и другие характеристики) также влияет на характеристики образцов. поэтому правильный выбор субстратов имеет большое значение для подготовки и характеристики Образцы. 。

Характеристики
- Материалы для самостоятельного изготовления
- Электрический


